本文主要是介绍基于Halcon采用 SVM 的纽扣电池表面缺陷检测,希望对大家解决编程问题提供一定的参考价值,需要的开发者们随着小编来一起学习吧!
1.文件夹结构
2. 处理主要思路:
基于SVM先实现分类功能,对应不同缺陷类别完成分类;之后单独对应每一种具体缺陷来做缺陷位置定位。
3.表面缺陷检测源代码:
dev_update_off ()
dev_close_window ()
dev_open_window (0, 0, 400, 300, 'black', WindowHandle)
dev_set_line_width (2)*创建支持向量机分类器
create_class_svm (10, 'rbf', 0.02, 0.02, 4, 'one-versus-one', 'normalization', 10, SVMHandle)*确定图像和分类名称一一对应
FileNames:=['无缺陷','凹点','划痕','锈斑污渍']
for Classnumber := 0 to 3 by 1
list_image_files (FileNames[Classnumber], 'default', [], ImageFiles1)
for I := 0 to |ImageFiles1|-1 by 1
*读取图像并筛选出各类特征
read_image (Image, ImageFiles1[I])
binary_threshold (Image, Region1, 'max_separability', 'light', UsedThreshold)
fill_up (Region1, RegionFillUp)
connection (RegionFillUp, Conn
这篇关于基于Halcon采用 SVM 的纽扣电池表面缺陷检测的文章就介绍到这儿,希望我们推荐的文章对编程师们有所帮助!