本文主要是介绍分立器件测试仪系统Si.SiC.GaN 材料 IGBT.Mosfet.Diode.BJT......，希望对大家解决编程问题提供一定的参考价值，需要的开发者们随着小编来一起学习吧！
DCT1401
分立器件测试仪系统
DCT1401分立器件测试仪系统能测试很多电子元器件的静态直流参数（如击穿电压V(BR)CES/V(BR)DSs、漏电流ICEs/lGEs/IGSs/lDSs、阈值电压/VGE(th)、开启电压/VCE(on)、跨导/Gfe/Gfs、压降/Vf、导通内阻Rds(on)）。
测试种类覆盖 7 大类别26分类，包括“二极管类”“三极管类（如BJT、MOSFET、IGBT）”“保护类器件”“稳压集成类”“继电器类”“光耦类”“传感监测类”等品类的繁多的电子元器件。
高压源标配1400V（选配2KV），高流源标配100A（选配40A,200A）
控制极/栅极电压40V，栅极电流10mA
分辨率最高至1mV / 1nA，精度最高可至0.5%
DCT1401分立器件测试仪系统适用于分立器件测试还可测试“结电容”，支持“脉冲式一键加热”和“分选机连接”
第一部分：规格&环境
1.1、产品信息
产品型号：DCT1401@029-87309001
产品名称：分立器件测试仪系统
1.2、物理规格
主机尺寸：深660*宽430*高210(mm)
主机重量：＜35kg
主机颜色：白色系
1.3、电气环境
主机功耗：＜300W
海拔高度：海拔不超过 4000m；
环境要求：-20℃～60℃（储存）、5℃～50℃（工作）；
相对湿度： 20%RH～75%RH (无凝露，湿球温度计温度 45℃以下)；
大气压力：86Kpa～106Kpa；
防护条件：无较大灰尘，腐蚀或爆炸性气体，导电粉尘等；
电网要求：AC220V、±10%、50Hz±1Hz；
工作时间：连续；
第二部分：应用场景和产品特点
一、应用场景
1、测试分析（功率器件研发设计阶段的初始测试，主要功能为分立器件测试）
2、失效分析（对失效器件进行测试分析，查找失效机理。以便于对电子整机的整体设计和使用过程提出改善方案）
3、选型配对（在器件焊接至电路板之前进行全部测试，将测试数据比较一致的器件进行分类配对）
4、来料检验（研究所及电子厂的质量部（IQC）对入厂器件进行抽检/全检，把控器件的良品率）
5、量产测试（可连接机械手、扫码枪、分选机等各类辅助机械设备，实现规模化、自动化测试）
6、替代进口
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