1.抗锯齿(反走样)         在上一章中，在光栅化三角形的时候出现了明显的锯齿效果。如下图所示是三角形采样过程：         从图上可知像素点不是纯红色就是纯白色。如果在采样前先进行模糊操作(滤波)，如下图所示：         经过模糊操作后三角形的边缘颜色变化有了一定的过渡，再进行采样时，靠近三角形边缘的地方可以采到一部分过渡色的像素，采样结果不在是要么红色要么白色，

上节课我们判像素点是否在三角形内得到了三角形光栅化的结果，但是这样得到的三角形会产生严重的锯齿现象（走样Aliasing），这节课我们就来讨论抗锯齿（反走样Anti-Aliasing） 产生这样瑕疵(Artifacts)的原因是由于我们对三角形进行了采样(Sampling)。而采样会造成Artifacts的原因是图像或信号变化的太快了，而采样的速度太慢。 针对采样造成的走样问题，我们可以先

计算机图形学技术 见 计算机图形学技术 所谓着色器走样，我们考虑像素着色器上的像素点： 加入我们要对每个像素值进行同一种线性操作，比如，值乘以两倍，这没关系对吧，大家一起亮两倍，不会有偏差。 但是大部分操作都是非线性的，就可能因为插值造成走样，本质上是像素着色器改变了频率。 在法线贴图中，用法线纹理计算光照时，就会加剧这种现象： 根本原因在于着色器中对光源采样不足（按照渲染方程，

http://www.devbean.net/2012/11/qt-study-road-2-antialiasing/ 我们在光栅图形显示器上绘制非水平、非垂直的直线或多边形边界时，或多或少会呈现锯齿状外观。这是因为直线和多边形的边界是连续的，而光栅则是由离散的点组成。在光栅显示设备上表现直线、多边形等，必须在离散位置采样。由于采样不充分重建后造成的信息失真，就叫走样；用于减少或消除这种

WU反走样算法 由离散量表示连续量而引起的失真称为走样，用于减轻走样现象的技术成为反走样，游戏中称为抗锯齿。走样是连续图形离散为想想点后引起的失真，真实像素面积不为 零。走样是光栅扫描显示器的一种固有现象，只能减轻，不可避免。 原理 Wu 反走样算法是对距离进行加权的反走样算法。 空间混色原理指出，人眼对某一区域颜色的识别是取这个区域颜色的平均值，Wu 反走样算法原理是对理想直线上的任

WU反走样算法 由离散量表示连续量而引起的失真称为走样，用于减轻走样现象的技术成为反走样，游戏中称为抗锯齿。走样是连续图形离散为想想点后引起的失真，真实像素面积不为 零。走样是光栅扫描显示器的一种固有现象，只能减轻，不可避免。 原理 Wu 反走样算法是对距离进行加权的反走样算法。 空间混色原理指出，人眼对某一区域颜色的识别是取这个区域颜色的平均值，Wu 反走样算法原理是对理想直线上的任

反走样主要是解决采样不足导致的。一般方案选择需要兼顾画面质量与渲染效率权衡的前提下，对图像进行增强。反走样经过了第一代超级采样抗锯齿SSAA，到第二代的多重采样抗锯齿MSAA，快速近似采样FXAA，增强子像素变形抗锯齿SMAA，目前逐步被第三代时间序列抗锯齿TAA替代。         目前unity的URP下，主要还停留在第二代，第三代TAA官方unity还处于开发者，实际效果

Artifacts 瑕疵 在计算机图形学中Artifacts（瑕疵）指的是Errors / Mistakes / Inaccuracies 采样产生的Artifacts 锯齿 摩尔纹 Moire Pattterns（去掉图像的奇数行和奇数列）—— 由欠采样undersampling造成 产生Artifacts 的原因 很多Artifact产生的原因是信号变换太快而采样太慢 一