来源:Quasi-Physical Equivalent Circuit Model of RF Leakage Current in Substrate Including Temperature Dependence for GaN-HEMT on Si(TMTT 23年) 摘要 该文章提出了一种针对硅基氮化镓高电子迁移率晶体管(GaN-HEMT)的准物理等效电路模型,旨在模拟基板中的射频
这篇文章是香港科技大学Kevin J. Chen等人与台积电M.-H. Kwan等人关于高电容密度的p-GaN栅电容在高频功率集成中的应用研究。 文章详细介绍了p-GaN栅电容的设计、特性和在高频功率集成中的应用。通过实验数据和理论分析,文章展示了p-GaN栅电容在实现高电容密度、低ESR和高Q因子方面的潜力。此外,文章还讨论了不同布局设计对电容器性能的影响,特别是多指交错布局在提高高频性能方面
I. 引言(INTRODUCTION) 宽带隙(WBG)器件的重要性: 引言部分首先强调了宽带隙(WBG)器件在高频、高效率电力电子技术中的关键作用。这些器件,包括碳化硅(SiC)和氮化镓(GaN),相较于传统的硅功率器件,具有显著的优势。宽带隙半导体材料的高击穿场强允许设计更薄的漂移区,从而优化器件的特定导通电阻(Rds,on)。此外,GaN的高电子迁移率进一步降低了导通电阻,使得器件
本文是一篇关于p-GaN门AlGaN/GaN高电子迁移率晶体管(HEMTs)的研究文章,发表于《应用物理杂志》(J. Appl. Phys.)2024年4月8日的期刊上。文章的标题为“Analysis and modeling of the influence of gate leakage current on threshold voltage and subthreshold swing
【High threshold voltage p-GaN gate power devices on 200 mm Si】——IPSD2013 摘要: 三星公司的研究人员介绍了一种高阈值电压、低导通电阻和高速的GaN-HEMT功率器件,该器件在栅极堆叠中使用了p-GaN层。文章提出了三个创新点:首先,首次在200毫米GaN on Si衬底上使用无Au且完全与CMOS兼容的工艺制造了p-G
【Effect of different layer structures on the RF performance of GaN HEMT devices】 研究总结: 本研究探讨了不同缓冲层结构对氮化镓高电子迁移率晶体管(GaN HEMT)射频性能的影响。通过对比三种不同缓冲层结构的GaN HEMT设备,研究了缓冲层质量和陷阱效应对射频增益的影响。实验采用了详细的直流和脉冲IV测量,以及
本文献《Influence of dislocations on electron energy-loss spectra in gallium nitride》由C. J. Fall等人撰写,发表于2002年。研究团队通过第一性原理计算,探讨了位错对氮化镓(GaN)电子能量损失谱(EEL)的影响。研究发现,未装饰的全核心位错导致低损耗EEL光谱中低于块体起始能量的吸收。此外,边缘位错附近的氮原子
【Mg activation anneal of the p-GaN body in trench gate MOSFETs and its effect on channel mobility and threshold voltage stability】 文献总结: 本研究探讨了在沟道栅MOSFETs中,镁(Mg)激活退火步骤对p型氮化镓(GaN)体的沟道迁移率和阈值电压(VT)稳定性的
5G的出现,势必会带来对更高移动网络连接速度和更大数据容量的需求。为了应对这一提升性能的需求,就需要新的基站技术。 基站是所有移动网络必须克服的一个瓶颈。也正是这个瓶颈,将目前的4G网络限制在50Mbps的平均峰值数据速度内,并阻碍它实现真正的实时传输。 相反,5G或许能实现实时无线通信,并实现10Gbps的最大数据速率。 德国弗莱堡的弗劳恩霍夫应用固体物理研究所(Fraunhofer Ins
标题:Compensation of Long-Term Memory Effects on GaN HEMT-Based Power Amplifiers 来源:IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES DPD:数字预失真(Digital Pre-Distortion)RF PA:射频功率放大器(Radio Frequency