DFT和JTAG的关系 DFT(Design for Testability)和JTAG(Joint Test Action Group)是与电子设计和测试领域相关的两个重要概念,它们之间有一定的关联。 DFT(Design for Testability): DFT是一种设计方法,旨在使电子芯片或电路板更容易进行测试和诊断。DFT的目标是在设计阶段考虑测试需求,以提高产品的可测试性、可维护
一、错误描述: ERROR: Debugger tries to select target interface JTAG.This interface is not supported by the connected emulator. Selection will be ignored by the DLL. Unknown Error. Error:Target DLL has