基于定标的非均匀校正算法（两点校正）

本文主要是介绍基于定标的非均匀校正算法（两点校正），希望对大家解决编程问题提供一定的参考价值，需要的开发者们随着小编来一起学习吧！

1.非均匀性产生的机理

非均匀性是指在入射到探测器上的光强能量一致，而红外探测器各单元输出的信号不一致的现象。

下图为某探测器的响应特性。横坐标为光照的辐射通量，纵坐标为探测器的输出响应。

非均匀性产生的原因主要包括以下3点：1)探测器原因。因为材料和工艺的原因，红外探测器像元的响应率很难做到一致；2)光学镜头原因。镜片加工的每个瞬时视场角的透过率不一致；3)光学系统原因。比如杂散光、冷反射等会进入光路从而在图像上叠加固定图形噪声。非均匀性主要影响红外成像系统的探测灵敏度和空间分辨率，为了充分发挥红外探测器的性能，提升系统作用距离，必须对红外成像原始信号进行非均匀性校正、坏元剔除等预处理。

2.基于定标的非均匀校正原理（两点校正）

由上图探测器响应曲线可知，非均匀性在一定的响应范围内可以近似线性变化。我们可以假设每个探测器像元的响应均为线性变化，模型如下：

$S_{ij}(\Phi )=R_{ij}\Phi +N_{ij}$ 公式1

其中， $S_{ij}(\Phi )$ 是第 $(i,j)$ 个探测器像元校正前的原始输出信号， $R_{ij}$ 是探测器响应的增益因子， $\Phi$ 是入射到探测器像元上的光能量， $N_{ij}$ 是探测器响应的截距因子。即有两个前提条件，第一，探测器的响应在所关注的温度范围内是线性变化的，第二，探测器的响应具有时间的稳定性，并且其受随机噪声的影响较小，则非均匀性引入固定模式的乘性和加性噪声。