本文主要是介绍XPS测试中CHN含量为什么测不准?-科学指南针,希望对大家解决编程问题提供一定的参考价值,需要的开发者们随着小编来一起学习吧!
在做X 射线光电子能谱(XPS)测试时,科学指南针检测平台工作人员在与很多同学沟通中了解到,好多同学仅仅是通过文献或者师兄师姐的推荐对XPS测试有了解,但是对于其原理还属于小白阶段,针对此,科学指南针检测平台团队组织相关同事对网上海量知识进行整理,希望可以帮助到科研圈的伙伴们;
XPS CNO含量测不准问题
@指南针杭州张大萌萌老师
故事背景:
俗话说开门做生意,来者都是客,
万事屋作为科研界首屈一指的仪器共享平台
服务过的客户量可以说
手拉手连起来可以绕地球好几圈,
群体的广泛让个人的差异高亮且突出,
毕竟成年人的生活总是这么喜怒无常,
有些话总能让你上一秒还能平静如昨,
下一秒就只想立地成佛。
这不,第一位客人来了。
客人A:
您好,我测了个XPS,
但是发现结果不对啊,
我样品中明明没有这个元素
怎么测出来有百分之十几,
这不合理啊?
张张老师:
您好,请问您是测试哪些元素呢?
客人A:
就一个元素N,另外C是你们默认给测的
张张老师:
额。。。
内心独白:
让平静的本萌哑口无言的
不是因为客户的无理要求,
而是这个在工作中解释了无数遍的问题,
今日又要复述一遍,
平静一番后,本萌回复
张张老师:
您好,是这样的哈,
首先跟您解释下XPS测试的是
表面10nm左右深度的元素含量,
且得到的是相对含量,
是一种半定量半定性的测试手段,
关于您的这种情况是合理且必然的。
张张老师:
首先
空气中的CHO的小分子
很容易吸附到样品表面,
尤其是粉末样品,使得表面造成污染,
因此,对于C,N,O这类元素,
即使样品中没有也会被测试出来;
张张老师:
其次,
XPS测试出来的是样品表面
C和N元素的相对含量值,
值的大小取决于另外一个元素,
不能用其作为准确定量的手段,
仅可侧面判断样品中的组成成分;
张张老师:
最后,
如果想避免表面被污染或氧化的影响,
建议可以刻蚀一定深度后测试,
不过刻蚀
对块状或薄膜的样品比较有效。
如果您是粉末样品但是一定要用
XPS证明样品中不含N元素,
那么您需要保证
样品在制备及测试的
整个过程中不接触空气。
因此这个问题希望您能理解!
客人A:
原来是这样啊,
我第一次接触XPS不知道,
这次学到了,谢谢您!
张张老师:
不客气,有问题及时联系。
让本萌痛并快乐且乐此不疲的事情就是
在帮助到客户后收到的这一声谢谢,
因为它是镇定剂它是安心丸,
它是堪比救命稻草的续命丸。
这不,吃完马上元气满满迎接下一位客人。
客人B:
您好,请问您这边
XPS可以做氩离子溅射吗?
我有一个有机薄膜样品
希望能精确刻蚀100nm之后测试?
张张老师:
额。。。。
内心独白:
果然是个有挑战性的问题,
如果没有对XPS有过深入了解还真不清楚,
好在本萌的队伍高手如云,
处理这种问题绰有余裕。
张张老师:
这个问题是这样的哈,
首先
设备上有不同的功率刻蚀,
不同功率的刻蚀速率
是根据标准样品
硅表面的氧化硅的计算速率的,
如果说要求刻蚀100nm,
老师也只是根据标准样品的
溅射深度来设置参数,
如果必须要求刻蚀样品100nm,
就需要做标准样品(需要您自己提供哦),
张张老师:
另外刻蚀一般用氩离子枪,
当然还有别的比如C60,
但并不是所有样品适合做溅射,
尤其是有机物最好不要用氩离子枪溅射,
有可能把元素的价态打的变化了
(比如氧化物打成单质),
那样就不是原来的样品了。
客人B:
是这样啊,
那我没有标样想要精确控制刻蚀深度
就很难了,
我再找下其他的方案,
后面再联系您啊,非常感谢!
张张老师:
不用客气哦,随时联系!
突然觉得不断提需求的客人们,
不断地刷新着本萌的技能及知识范围,
这何尝不是一种互利互惠的好事情,
作为一个世界和平主义者,
本萌所希望的服务者与被服务者之间
就是这样一种互相支持,
共同进步的关系,
毕竟争执解决不了任何问题,
赢得辩论的唯一办法就是避免辩论。
本文所有内容文字和音视频资料,版权均属科学指南针网站所有,任何媒体、网站或个人未经本网协议授权不得以链接、转贴、截图等任何方式转载。
这篇关于XPS测试中CHN含量为什么测不准?-科学指南针的文章就介绍到这儿,希望我们推荐的文章对编程师们有所帮助!