本文主要是介绍高速TFT LCD瑕疵檢測系統，希望对大家解决编程问题提供一定的参考价值，需要的开发者们随着小编来一起学习吧！
http://ndltd.ncl.edu.tw/cgi-bin/gs32/gsweb.cgi/ccd=WjnVUZ/record?r1=57&h1=1
本文之目的在於開發使用於TFT LCD螢幕半成品之自動光學檢查系統。使用PC-BASED 系統設計多執行緒程式，藉由圖像產生器切換TFT LCD 顯示模式並以運動控制卡控制伺服馬達推動取像平台，移動過程中即時產生觸發信號通知Camera Link影像擷取卡驅動線掃描CCD(Charge Coupled Device)擷取影像，在雙CPU系統下以多工程式對灰階值進行平行計算，修正影像變形誤差，快速且穩定檢查出不良點並計算出不良點位置，並藉由基因演算法自動找出檢測參數。
本研究除了使用斷開、閉合、膨脹、侵蝕、空間迴旋運算等傳統影像技術，本研究並加入基因演算法，將所有檢測參數依計算完之適應函數值，透過基因演算競爭式選擇法進行淘汰，找出最小差異值，保留十組適應函數值最小的基因，經實際測試的結果，發現整體運作情形比人員調整結果還好。
目前本研究已完成機台測試，所設計的機台雖然比目前進口之設備架構簡單許多，採用非同步方式時可同時進行好幾個動作，可將檢測時間大幅縮短，但是產能可以提昇、體積縮小，成本還比進口之設備便宜。未來將努力提高機臺穩定性使其能早日實際使用於線上。
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