本文主要是介绍ISO 26262中的失效率计算:IEC 61709-Clause 17_Switches and push-buttons,希望对大家解决编程问题提供一定的参考价值,需要的开发者们随着小编来一起学习吧!
概要
IEC 61709是国际电工委员会(IEC)制定的一个标准,即“电子元器件 可靠性 失效率的基准条件和失效率转换的应力模型”。主要涉及电学元器件的可靠性,包括失效率的基准条件和失效率转换的应力模型。本文介绍IEC 61709第十七章: Switches and push-buttons的失效率预测模型。
1 元器件分类和基准温度
IEC 61709根据元器件的类型和40°C的元器件环境温度,推荐了基准结温θref:
Switches and push-buttons的基准结温
2 失效率的计算
2.1 失效率预测模型
Switches and push-buttons的失效率预测模型如下:
式中:
λ:失效率,单位为十亿分之一每小时(10^-8/h);
λref:基准条件下的失效率,单位为十亿分之一每小时(10^-8/h);
πES:电应力系数;
2.2 电应力系数
2.2.1 电应力区域划分
按运行条件的电流和电压划分4个电压力区域:
2.2.2 电应力系数选择
根据继电器负载类型和电应力区域,选择电应力系数:
- Dip fix, coding switches and foil push buttons
πES = 1
- Other switches and push-buttons
a) Switches and push-buttons for low electrical stress
b) Switches and push-buttons for higher electrical stress
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