电阻常见失效模式

本文主要是介绍电阻常见失效模式，希望对大家解决编程问题提供一定的参考价值，需要的开发者们随着小编来一起学习吧！

电阻常见失效模式：

电阻器由于结构较为简单，工艺成熟，通常失效率相对较低。器失效主要表现为以下几种：

阻值漂移：老化后通常发生；（通过老化试验进行筛选，规避该问题）

开路：在受到瞬间过功率冲击的时候可能导致开路；（控制电阻的瞬态功率）

烧毁：长时间在的定功率以上时可能会发生烧焦甚至烧毁，一般为开路（控制电阻的稳态功率）

断线开路：线绕电阻器受到机械应力或者瞬时过功率冲击时可能发生；

引脚断裂：电阻器引脚不可反复弯曲；

焊接问题：超存储期、引出端氧化、镀层不佳、引出端严重不对称都可能导致虚焊等焊接问题。

硫化：这种电极一般是银钯合金。由于电阻表面的二次保护层和焊接端头不是严丝合缝的。导致面电极部分暴露在空气中。因此当空气中含有大量硫化气体时，银被硫化物反应成硫化银。由于硫化银不导电，所以随着电阻被硫化，电阻值逐渐增大，直至最终成为开路。

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链接：电阻——电阻器的基本失效模型

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