本文主要是介绍电阻常见失效模式,希望对大家解决编程问题提供一定的参考价值,需要的开发者们随着小编来一起学习吧!
电阻常见失效模式:
电阻器由于结构较为简单,工艺成熟,通常失效率相对较低。器失效主要表现为以下几种:
阻值漂移:老化后通常发生;(通过老化试验进行筛选,规避该问题)
开路:在受到瞬间过功率冲击的时候可能导致开路;(控制电阻的瞬态功率)
烧毁:长时间在的定功率以上时可能会发生烧焦甚至烧毁,一般为开路(控制电阻的稳态功率)
断线开路:线绕电阻器受到机械应力或者瞬时过功率冲击时可能发生;
引脚断裂:电阻器引脚不可反复弯曲;
焊接问题:超存储期、引出端氧化、镀层不佳、引出端严重不对称都可能导致虚焊等焊接问题。
硫化:这种电极一般是银钯合金。由于电阻表面的二次保护层和焊接端头不是严丝合缝的。导致面电极部分暴露在空气中。因此当空气中含有大量硫化气体时,银被硫化物反应成硫化银。由于硫化银不导电,所以随着电阻被硫化,电阻值逐渐增大,直至最终成为开路。
链接:https://mp.weixin.qq.com/s?__biz=MzAxNDAyMzc0Mg==&mid=210588091&idx=5&sn=291fe6478ae7650b670d128c0e30a0cd&mpshare=1&scene=23&srcid=0120wPDJGvY3gSgnCniHadGS#rd
链接:电阻——电阻器的基本失效模型
这篇关于电阻常见失效模式的文章就介绍到这儿,希望我们推荐的文章对编程师们有所帮助!