氧化锌压敏电阻片加速老化的试验方法和得到的试验结果不尽相同。在老化机理的研究中一般可以用加速老化试验时功率损耗随时间的变化来衡量老化性能。分析我们的以及大量国外研究者的试验结果,可以将阀片功率损耗随时间变化的特性大致分为三种不司的类型: 类型1:阀片本身的性能较差,或施加电压的荷电率很高，般q≥0.9,或试验温度特别高,一般高于160℃时,功耗随时间急剧上升,很快导致发生热崩溃。典型的功率损耗急

探讨ZnO阀片高能氧化锌压敏电阻的老化机理应从其老化现象入手。在长期工作电压作用下,阀片的老化现象因所加的电压种类不同而不同。老化是一种缓慢发展的过程,对老化试验方法也还有待进一步的探讨和完善,因此所介绍的一些老化现象在不同实验室甚至在同一实验室对同一批试品都有不完全相同的结果。下面所介绍的是根据国内外多数实验室的研究成果,在长期交流或直流电压作用下得到的 ZnO 阀片老化的基本特征。 EA

碳化硅圆盘压敏电阻 |碳化硅棒和管压敏电阻 | MOV / 氧化锌 （ZnO） 压敏电阻 |带引线的碳化硅压敏电阻 | 硅金属陶瓷复合电阻器 |ZnO 块压敏电阻 关于EAK碳化硅压敏电阻 我们的碳化硅压敏电阻由约90%的不同晶粒尺寸的碳化硅和10%的陶瓷粘合剂和添加剂制成。将原材料制成各种几何尺寸的压敏电阻，然后在特定的大气和环境条件下在高温下烧结。 然后将一层黄铜作为电触点喷上火焰。