设计中，之所以会去考察信号过孔的残桩效应（Via Stub），是因为它的存在导致了不需要的频率谐振，当这些谐振出现在所关注的信号通道的插入损耗中时，就会引发较为严重的信号完整性（SI）问题。         那么Via Stub到底是如何引发SI问题的呢？可以借助下图对这个问题进行解释：         左侧图，显示一个有两部分组成的通孔，直通部分（Thru）用于器件引脚和