掃描专题

應用高解析度線掃描CCD於ITO導電玻璃表面瑕疵檢測之研究

http://ndltd.ncl.edu.tw/cgi-bin/gs32/gsweb.cgi?o=dnclcdr&s=id=%22094NTUS5146003%22.&searchmode=basic 有鑑於現今LCD面板產業的快速發展及其在大量生產製造中對於面板製程高精密零組件的檢測需求,本研究自行建構一套以線掃描CCD視覺系統為基礎的小型自動化光學檢測(AOI)平台。 本檢測平台採用4k解析