主要目的是随着钕铁硼NdFeB器件朝着高内禀矫顽力和小型化方向发展，给磁测量测量带来了新的研究课题。目前对于薄的样品，可采用的德国玛格力生产的C-750电磁铁法（IEC60404-5硬磁材料测量方法）进行测试，测试范围根据设备提供的间隙磁场参数和测试J线圈的厚度指标，可满足样品厚度1.2mm以上，内禀矫顽力2500kA/m以下的样品测量。对于更高内禀矫顽力的样品，多采用的英国Hirst生产的PFM

主要目的是随着钕铁硼NdFeB器件朝着高内禀矫顽力和小型化方向发展，给磁测量测量带来了新的研究课题。目前对于薄的样品，可采用的德国玛格力生产的C-750电磁铁法（IEC60404-5硬磁材料测量方法）进行测试，测试范围根据设备提供的间隙磁场参数和测试J线圈的厚度指标，可满足样品厚度1.2mm以上，内禀矫顽力2500kA/m以下的样品测量。对于更高内禀矫顽力的样品，多采用的英国Hirst生产的PFM