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DFT中的SCAN、BIST、ATPG基本概念

DFT中的SCAN、BIST、ATPG基本概念 SCAN 定义 扫描路径法是一种针对时序电路芯片的DFT方案,目标是在不影响正常功能的情况下来能够提高可控性和可观测性。 原理 原理是将时序电路可以模型化为一个组合电路网络和带触发器(Flip-Flop,简称FF)的时序电路网络的反馈。 实现 具体实现步骤共分为两步: step1:DFF替换为SDFF step2:将SDFF串联起来形

EMNLP 2020 BiST: Bi-directional Spatio-Temporal Reasoning for Video-Grounded Dialogues

动机 基于视频的对话是非常具有挑战性的,这是因为(i)包含空间和时间变化的视频的复杂性,以及(ii)用户在视频或者多个对话轮中查询不同片段和/或不同目标的话语的复杂性。然而,现有的基于视频的对话方法往往关注于表面的时间级视觉线索,而不是从视频中获取更细粒度的空间信号。作者的方法旨在通过双向推理框架从视频中检索细粒度信息来挑战基于视频的对话来解决这一问题。与视频对话相关的任务是视频问答和视频c

ZCU111 BIST

内建自检(Built In Self Test) ZCU111开发板在出厂时在Flash里已经预烧录了自检程序,所以直接参考XTP490-zcu111-quickstart.pdf(同产品附带纸质文档)进行自检即可。 自检失败 自检失败一般是因为Flash自检程序被覆盖,需要重新烧录,参考xtp515-zcu111-restoring-flash-c-2018-3.pdf文档重新烧录,其中烧

基于 MARCH C+ 算法的SRAM BIST

SRAM BIST 顶层 RSAM BIST 结构图'      SRAM BIST : MEM_BIST.V  //Author : jian qiao //Revision History : 2020-4-1 // Revision : 1.0//Eailbox : jianqiaojia@dingtalk.com//`timescal