本文主要是介绍DFT系列文章之 《DFT Scan chain》，希望对大家解决编程问题提供一定的参考价值，需要的开发者们随着小编来一起学习吧！
我们知道，运用DFT技术的基本步骤：
1. 规划scan chain
规划 scan chain，首先将电路中的普通 DFF 换成 scan DFF：
2. scan cell 替换
scan DFF 是在原DFF 的输入端增加了一个 MUX，于是多了几个 pin ：scan_in，scan_enable，scan_out。换完之后将所有的 scan DFF 首尾依次串接起来，就构成了一条 scan chain ：
原始RTL结构图
替换MUX-D scan 后的效果图
3. 工作原理解释
（1）当 SE 信号（即 scan enable ）有效时，电路进入scan 状态，此时数据通路如下图蓝色粗线所示：
（2）当 SE 信号无效时，电路工作在 normal 状态，数据通路如下图红色粗线所示：
4. 检测电路缺陷
那么，这样一条 scan chain 是如何检测到电路中的缺陷呢？
简单来讲，scan chain 工作时分为三个步骤： load ····> capture ····> unload
load 是将input pattern 打入 scan chain
capture 是将每一级组合逻辑的结果打入下一级register
unload 是将scan chain 中的数据串行输出，得到 output pattern
解释：
1. 将普通的 register 替换为 scan register
2. 将 scan register 首尾依次串接起来
3. 在 SE 有效拉高时，将 input pattern 串行打入scan register
4. 然后 SE 拉低，等 Reg/Q 的值经过组合逻辑运算后到达下一级 reg 的D 端
5. 再产生一个 capture pulse 将 D 端的值打入寄存器
6. 最后 SE 拉高，将 reg 中的值依次串行输出，得到 output pattern
7. 如果 output pattern 和预期的输出结果相同，说明电路工作正常
否则说明电路制造有问题，属于废片了
这篇关于DFT系列文章之 《DFT Scan chain》的文章就介绍到这儿，希望我们推荐的文章对编程师们有所帮助！
