CRG设计之时钟

本文主要是介绍CRG设计之时钟，希望对大家解决编程问题提供一定的参考价值，需要的开发者们随着小编来一起学习吧！

1. 前言

CRG(Clock and Reset Generation，时钟复位生成模块) 模块扮演着关键角色。这个模块负责为整个系统提供稳定可靠的时钟信号，同时在系统上电或出现故障时生成复位信号，确保各个模块按预期运行。简而言之，CRG模块就像是SoC系统的心脏，提供着整个系统需要的时钟和复位信号。

出于时钟复位结构规范设计和DFT可控的目的，一般会把相关电路放在一个集中的模块中管理，由专门的设计人员按需求进行设计与维护。对于时钟分频、MUX、切换、DFT测试结构埋入等等，均在模块内部实现。复位类似。

涉及到的主要技术：自动解复位，复位顺序，复位切频，时钟门控，亚稳态的恢复，异步复位同步释放，毛刺清除的技术细节。不用公司，不同芯片，因为场景不同，对于CRG的要求也不尽相同，但是具体的技术原理大同小异。CRG中主要包含这些东西：

2. 时钟基本概念

芯片的时钟源可以是外部晶振或是内部PLL，当然内部PLL也需要一个参考时钟，这个参考时钟一般是来自于片外的晶振。常见的外部时钟源有32.768KHz时钟和26MHz时钟（这个频率可变）。32.768KHz时钟用来提供给rtc模块或者timer模块等，用于产生系统时钟、时间戳或者进行计数等。26MHz时钟常用做PLL的参考时钟，或者其他需要慢速时钟的模块。

2.1 时钟源

用来产生时钟的器件，包括石英晶体，晶振等结构。

2.2 时钟结构

2.3 时钟属性

2.3.1 时钟周期

决定时钟频率

2.3.2 占空比

高脉冲占时钟周期的比例，常见为1/2

2.3.3 时钟抖动（clk jitter）

相对于理想时钟沿实际时钟存在不随时间积累的、时而超前、时而滞后的偏移称为时钟抖动,简称抖动，与时钟频率无关，如下图：

时钟的抖动可以分为随机抖动（Random Jitter，Rj）和固有抖动（Deterministic jitter）：

随机抖动的来源为热噪声、Shot Noise 和Flick Noise，与电子器件和半导体器件的电子和空穴特性有关，比如ECL 工艺的PLL 比TTL 和CMOS工艺的PLL 有更小的随机抖动；
固定抖动的来源为：开关电源噪声、串扰、电磁干扰等等，与电路的设计有关，可以通过优化设计来改善，比如选择合适的电源滤波方案、合理的PCB 布局和布线。

2.3.4 时钟偏斜（clk skew）

时钟分支信号在到达寄存器的时钟端口过程中，都存在有线网等延时，由于延时，到达寄存器时钟端口的时钟信号存在有相位差，也就是不能保证每一个沿都对齐，这种差异称为时钟偏移（clock skew），也叫时钟偏斜。时钟的偏移如下图所示：

时钟skew 与时钟频率并没有直接关系，skew 与时钟线的长度及被时钟线驱动的时序单元的负载电容、个数有关。

时钟的偏移和时钟的抖动都影响着时钟网络分枝的延迟差异(相位差异)，在Design Compiler 里面，我们用时钟的不确定性（uncertainty）来表示这两种情况的影响。使用set_clock_uncertainty 命令来设置。

2.3.5 延时（latency）

时钟从时钟源（比如说晶振）出发到达触发器时钟端口的延时，称为时钟的延时，包含时钟源延迟（source latency）和时钟网络的延迟（networklatency），如下图所示：

时钟源延迟(clock source latency)，也称为插入延迟(insertion delay)，是时钟信号从其实际时钟原点到设计中时钟定义点（时钟的输入引脚）的传输时间，上图是3ns。

时钟网络的延迟( clock network latency)是时钟信号从其定义的点(端口或引脚)到寄存器时钟引脚的传输，经过缓冲器和连线产生的延迟(latency)，上图是1ns。

2.3.6 转换时间

时钟的上升沿跳变到下降沿或者时钟下降沿跳变到上升沿的时间，这个时间并不是完全没有跳变时钟的，而是需要一定的转换时间。时钟的转换时间与与单元的延时时间（也就是器件特性）还有电容负载有关。

3. 功能单元

3.1 时钟门控

主要是为了降低芯片功耗，中后端在综合时可以自行插入。

3.2 时钟分频

3.2.1 偶数分频——占空比为50%

采用触发器反向输出端连接到输入端的方式，可构成简单的 2 分频电路。以此为基础进行级联，可构成 4 分频，8 分频电路。电路实现如下图所示，用 Verilog 描述时只需使用简单的取反逻辑即可。

3.2.2 奇数分频

需要奇数分频如果不要求占空比为 50%，可按照偶数分频的方法进行分频。即计数器对分频系数 N 进行循环计算，然后根据计数值选择一定的占空比输出分频时钟。

如果奇数分频输出时钟的高低电平只差一个 cycle ，则可以利用源时钟双边沿特性并采用"与操作"或"或操作"的方式将分频时钟占空比调整到 50%。采用"或操作"产生占空比为 50% 的 3 分频时钟。

利用源时钟上升沿分频出高电平为 1 个 cycle、低电平为 2 个 cycle 的 3 分频时钟。

利用源时钟下降沿分频出高电平为 1 个 cycle、低电平为 2 个 cycle 的 3 分拼时钟。

两个 3 分频时钟应该在计数器相同数值、不同边沿下产生，相位差为半个时钟周期。然后将 2 个时钟进行"或操作"，便可以得到占空比为 50% 的 3 分频时钟。以3分频为例，对应的代码如下：

3.2.3 时钟切换

时钟mux:用于静态切换，动态切换会出现glitch。

时钟switch：可用于动态切换，切换过程中会短时间内无时钟,在两个电平相反的时候切换时钟，肯定有毛刺；电平相同的时候，即使不产生毛刺，时钟切换后的第一个时钟的周期或占空比也不是理想的。所以，为避免毛刺的产生，需要在两个时钟都为低电平的时候进行时钟切换。一种典型的时钟切换电路如下所示。

该电路利用时钟下降沿对时钟选择信号 sel_clk 进行缓存。同时一个时钟选择信号对另一个时钟进行反馈控制，保证同一时刻只能有一路时钟有效。最后采用"或操作"将两路时钟合并，完成时钟切换的过程。

4. ICG

ICG模块的缩写是integrated Clock Gating的意思, 有些地方把这个东西叫isolate clock gating，应该是不对的。在较为先进的工艺库中一般会直接提供这个模块，不需要自己手动的搭建。但是需要知道其原理。

4.1 ICG原理

ICG模块一共有两种形式，或形式和与形式。其内部逻辑是用一个寄存器和两个与门组成的。

我们拿与门作为例子来讲。对于与门的ICG，只有clk为低电平也时EN信号才会通过ICG。保证了输出的第一个波形是上升沿。对于或类型的整好相反。可以类似分析。

ICG波形：

ICG在数字电路中有三个用途：

用于关断时钟，降低功耗
用于动态切换时钟时防止产生毛刺
用于时钟分频，后续讲

4.2 ICG要求

1.类型如何选：使用Or还是And ICG，可以自己手动搭建ICG么

答：这个比较简单，如果电路是上升沿触发的那么选and ICG，否则选Or ICG。原因是AND ICG第一个好的时钟是时钟上升沿。Or ICG相反。工艺库都提供，不建议手动搭建。主要原因是分立的搭建需要专门检查STA, 而ICG在库中写好了时序约束，避免很多错误。

2.En信号有什么要求

答：En不可以异步，En信号一定要同步。否则如果EN和时钟沿离得太近容易亚稳态。En一定不能是门控后的信号产生的，否则就死循环了。

3.ICG是手动加的还是自动加的

答：模块级的ICG手动加，寄存器级别的ICG综合工具自动加。

4.3 自动门控时钟

ICG模块有时是根据设计手动加入到电路里的，但对于寄存器级别的控制，其实综合工具可以直接帮忙加入。如下图所示，只要代码风格写的好，综合工具就能自动帮你门控。

如果不看低功耗的综合，综合出的电路是这样的：

如果开了低功耗的综合，综合出来就是这样的：

那么实际情况下怎么插入的？这个需要看综合策略。如果Q就1两个bit，那其实使用mux更省一些。如果Q比较宽，例如Q为32bit的话插入ICG就收益非常明显。既节省了功耗，1个ICG肯定是小于32个mux。

5. OCC

Delay Fault会影响芯片正常工作的频率，导致芯片的时序不能满足设计要求。因此Delay Fault成为影响芯片质量的主要因素之一。At-speed test已被证明是用来测试Delay Fault的有效方法，at-speed test就是让芯片在内部高速时钟上测试，但是该测试方法在fast capture mode下需要两个时钟脉冲，第一个时钟需要使得前一个scan flip-flop的值进行翻转来激活故障，第二个时钟需要使得前一个scan flip-flop的翻转值传播到后一个scan flip-flop，从而实现故障传播。这两个时钟来自于function clock，因此需要通过I/O pad提供这些at-speed clock脉冲，但是I/O pad可以支持的最大频率存在限制，OCC电路应运而生。

5.1 什么是OCC

片上时钟控制器(On-chip Clock Controllers ，OCC)，也称为扫描时钟控制器(Scan Clock Controllers，SCC)。OCC 是插在SoC上的逻辑电路。用来做DFT测试，基本原理是在 scan shift 模式下，选通慢速的ATE 时钟，load 或 unload 扫描链；在 capture 模式下，对 free-running PLL clock 过滤筛选出 lauch 和 capture clock 进行at-speed 测试。在ATE（自动测试设备）上对芯片做ATPG测试时，OCC用于控制内部scan flip-flop时钟。

全速测试就是让芯片工作在自己高倍时钟频率上，这个频率往往是要高过ATE的时钟的。OCC就实现此功能。OCC电路可以实现ate clock和function clock之间的切换，并且控制在什么时刻跳转。所以standard的OCC在设计时需要拥有三个主要功能：clock selection, clock chopping control and clock gating。

5.2 OCC的架构及功能

这里我们会介绍一下Synopsys的OCC 1.0 ，Synopsys的OCC定义了多个输入输出端口：

5.2.1 function mode

当OCC处于function mode时，test mode = 0，此时pll _clk选通，OCC会向内部 design输入function clock，此时可以将OCC电路视为transparent。

5.2.2 shift mode

当OCC处于shift mode时，我们在ate clock的控制下将测试向量load进internal scan chain和clock chain内，所以test mode = 1，scan_en = 1，此时ate _clk选通，完成shift操作。

5.2.3 bypass mode

Synopsys的OCC 1.0 没有真正的slow capture mode，需要做stuck-at 测试时，可以直接从ATE机台提供OCC bypass mode capture clock。通过外部ATE机台对ate clock的pulse进行适当的控制就可以进行stuck-at测试，不需要clock chain的控制。此时test mode = 1，pll_bypass = 1。

5.2.4 fast capture mode

当OCC处于fast capture mode时，期望在capture阶段生成两个function clock脉冲。所以test mode = 1，scan_en = 0，pll_bypass = 0，此时pll _clk选通，并且PLL cycle counter 和clock chain的输出经过ICG共同决定gating几个时钟脉冲，完成at-speed测试。

Fast capture mode的波形图如下图所示，下面我们来简单地分析一下。

当我们进行capture操作时，scan enable信号要从1变为0，为了保证得到的是稳定的0信号，我们需要先经过sync cell的3个synchronization cycles。

通过先前shift过程中load在clock chain里的test pattern（0110）以及PLL cycle counter的共同控制，在第2、3个cycle给出两个pulse，即launch和capture。

最后scan enable信号从0变为1，完成capture的操作，进入shift过程。

需要注意的是，对于Synopsys的OCC，Scan_en = 1后，ate clock在第二个pulse才出现，此过程被称为pre_shift 。

5.2.5 OCC的位置

OCC电路是一个IP，所以我们需要打断Design的一些节点，将其插入。如果external clock port直接驱动scan flip-flop，测试机可以直接在clock port上加激励控制输入clock的频率和时间，ATPG可以产出这样的pattern。然而大部分design中flip-flop都是由倍频分频处理过的PLL clock驱动，没法从外部去直接控制，所以需要OCC控制频率和什么时间出pulse。所以，OCC应插在PLL clock的output之后或是不能直接被primary input控制的clock处。