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【氮化镓】利用Ga2O3缓冲层改善SiC衬底AlN/GaN/AlGaN HEMT器件性能
Micro and Nanostructures 189 (2024) 207815文献于阅读总结。 本文是关于使用SiC衬底AlN/GaN/AlGaN高电子迁移率晶体管(HEMT)的研究,特别是探讨了不同缓冲层对器件性能的影响,以应用于高速射频(RF)应用。研究主要关注如何选择一个成本效益高、厚度超过1微米且缺陷较少的缓冲层,以改善直流(DC)和射频(RF)性能。研究中特别提到了使用β-Ga2
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Si(111)衬底上脉冲激光沉积AlN外延薄膜的界面反应控制及其机理
引言 通过有效控制AlN薄膜与Si衬底之间的界面反应,利用脉冲激光沉积(PLD)在Si衬底上生长高质量的AlN外延薄膜。英思特对PLD生长的AlN/Si异质界面的表面形貌、晶体质量和界面性能进行了系统研究。 我们研究发现,高温生长过程中形成非晶SiAlN界面层,这是由于高温生长过程中烧蚀AlN靶材时,衬底扩散的Si原子与脉冲激光产生的AlN等离子体之间发生了严重的界面反应所致。相反,通过在合适
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2023年全球市场蓝宝石基AlN模板总体规模、主要生产商、主要地区、产品和应用细分研究报告
按收入计,2022年全球蓝宝石基AlN模板收入大约12百万美元,预计2029年达到37百万美元,2023至2029期间,年复合增长率CAGR为 17.8%。同时2022年全球蓝宝石基AlN模板销量大约 ,预计2029年将达到 。2022年中国市场规模大约为 百万美元,在全球市场占比约为 %,同期北美和欧洲市场分别占比为 %和 %。未来几年,中国CAGR为 %,同期美国和欧洲CAGR分别为 %和 %
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