目录 一、简介 二、测试访问端口 2.1 端口说明 2.2 TAP 控制器 2.3 指令、数据寄存器 三、边界扫描结构 3.1 结构概览 3.2 BSR基本结构类型 3.3 EXTEST指令 四、多TAP扫描链 一、简介         1149.1协议定义了可包含在集成电路中的测试逻辑，以提供标准化的方法，其主要包含以下两点：         1.测试板级（PCB）

文章目录 一、TAP控制器的状态转移图二、各状态介绍 注：转载请注明出处 参考JTAG标准第六章测试逻辑控制器（Test logic controllers）。 记录下学习过程，个人水平有限，可能理解有误，后续若发现错误之处，会及时更新。 VersionDate1.02021.12.15 这篇笔记用来介绍TAP 控制器，TAP控制器是同步有限状态机，状态根据 TMS 和 TCK

指令寄存器 IR 指令寄存器允许指令移位到设计中。相关指令是用来选择即将执行的测试或者是对应TDR 的读取。IEEE1149.1 定义了强制性和可选择的指令，可实现特定设计指令的扩展。当然，IR 也可用于检查component 内部产生的特定设计信息检查。 IR 是基于移位寄存器的设计，除了与串行输出最接近的两个寄存器单元外，还有可选的并行输入。在TAP controller Update-I